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菲希尔X射线测厚仪

]资料
如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: 菲希尔X射线测厚仪
产品型号: X-RAY XUL
产品展商: 德国菲希尔
关注指数:5587
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简单先容
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE?-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,它结构紧凑,小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。菲希尔X射线测厚仪又名菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪,X-RAY XUL系列分为固定平台的XUL和手动平台XUL-xym

菲希尔X射线测厚仪

   的详细先容

菲希尔X射线测厚仪
FISCHERSCOPE® X-RAY XUL®

FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm X射线光谱仪,主要用于无损厚度测量和成分析。
菲希尔X射线测厚仪比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了

XULX射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。


本款仪器特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

典型的应用领域有:

              在小部件如螺钉、螺栓和螺帽上的测量

              在连接器和电气元件上的测量

              电镀液的溶液成分分析

 

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM设计理念

FISCHERSCOPE X-RAY XUL设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根据使用用途,有以下两种不同版本型号,分别对应不同的样品平台:

XUL: 固定平面平台

XUL XYm: 手动X/Y平台

高分辨的彩色摄像头配以强大的放大功能,可以**定位测量位置。

尽管仪器本身结构紧凑,但是由于XUL光谱仪配备了宽敞的测量室,从而可以测量更大体积的样品。

外罩底部留下了空隙,可方便地测量超出测量室大小的大尺寸扁平样品,如大面积的印制线路板等。

通过强大而界面友好的WinFTM®App,可以在电脑上便捷地完成整个测量过程,包括测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。

XUL型光谱仪是安全而保护**的测量仪器,型式许可符合德国Deutsche Röntgenverordnung-RöV法令要求。

 

 

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM通用规范

用途

能量色散X射线荧光光谱仪 (EDXRF) 用于测量镀层厚度和材料分析

可测量元素范围

从氯(17)到铀(92),如使用选配的WinFTM® BASIC,可*多同时测量24种元素

设计理念

台式仪器,测量门向上开启

测量方向

由下往上

 

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM之X射线源

X射线靶材

带铍窗口的钨靶射线管

高压

三种可调高压:30 kV40 kV50 kV

孔径(准直器)

圆形Ø 0.3mm ,(可选配置:矩形0.3 mm x 0.05 mm

测量点大小

取决于测量距离和使用的准直器的大小,视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸,*小的测量点面积约为Ø 0.51 mm

测量距离,如样品为腔体时

使用砖利保护的DCM(测量距离补偿法)功能:

测量距离为0 ~ 20 mm时,为已校准范围;

测量距离为20 ~ 27.5 mm时,为非校准范围。

 

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM之X射线探测

X射线接收器

比例接收器

二次滤波器

可选:钴滤波器或镍滤波器

 

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM样品定位

视频显微镜

高分辨率 CCD彩色摄像头,可用来观察测量位置 十字线带有刻度尺和测量点指示装置

测量区域的LED照明亮度可调节

放大倍数

38 x ~184x (光学变焦: 38x ~ 46x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

 

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM样品台

样品台

XUL

XUL XYm

设计

固定样品平台

手动XY平台

X/Y方向*大可移动范围

-

50 x 50 mm

样品放置可用区域

250 x 280mm

样品*大重量

2kg

样品*高高度

240mm

 

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM电气参数

电压,频率

AC 115 V AC 230 V 50 / 60 Hz

功率

*大为 120 W (测量头重量,不包括计算机)

保护等级

IP40

 

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM仪器规格

外部尺寸

xx[mm]395 x 580 x 510

重量

45 kg

内部测量舱尺寸

xx[mm]360 x 380 x 240

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM环境要求

测量时温度

10°C – 40°C / 50°F – 104°F

存储或运输时温度

0°C – 50°C / 32°F – 122°F

空气相对湿度

≤ 95 %,无结露

 

菲希尔X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM计算系统

计算机

带扩展卡的Windows®个人计算机系统

App

标准配置:Fischer WinFTM® LIGHT

可选配置:Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER

实行标准

CE合格标准

EN 61010

X射线标准

DIN ISO 3497ASTM B 568

型式许可

型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的,有完善防护措施的测量仪器

 

fischer X射线测厚仪|菲希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪XUL、XUL-XYM订货号

FISCHERSCOPE X-RAY XUL

603-029

FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm

603-131

如有特殊要求,可与Fischer磋商,定制特殊的XUL型号。


其他 相关仪器铁素体测量仪高斯扭力冲击试扭转疲劳试电子万弹簧金属电人造板车辆测设备

Fischer基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。可测量的元素范围从氯(17)到铀(92)。
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